技術(shù)文章
GB4943.1音視頻、信息技術(shù)和通信技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)方案
序號(hào) 名稱(chēng) 條款 相關(guān)要求
1 圖20 試驗(yàn)鉤 4.8.5 IEC62368-1
2 球壓試驗(yàn)裝置 5.4.1.10.3
3 爬電距離測(cè)試卡 5.4.2
4 圖29抗電強(qiáng)度測(cè)試儀 5.4.2.4 固體絕緣抗電強(qiáng)度試驗(yàn)裝置
5 劃痕試驗(yàn)探針 錐型,頂角40℃,尖端應(yīng)當(dāng)?shù)箞A拋光,倒圓半徑為0.25MM±0.02MM
6 IP3X試驗(yàn)探針 附錄P.2.2 防止異物進(jìn)入的安全防護(hù) 附錄P防止導(dǎo)電物進(jìn)入的安全防護(hù)
7 IP4X試驗(yàn)探針 附錄P.2.2 防止異物進(jìn)入的安全防護(hù)
8 13MM試驗(yàn)探針 P.2.3.1
9 500G沖擊鋼球 T.6、T.9 附錄T 附錄T機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)
10 跌落木板 T.7 附錄T
11 UL試驗(yàn)彎指 圖V.1 對(duì)兒童可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具 附錄V可觸及部件的測(cè)定
12 UL試驗(yàn)直指 圖V.1 對(duì)兒童可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具
13 試驗(yàn)彎指 圖V.2 對(duì)兒童不可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具
14 試驗(yàn)直指 圖V.2 對(duì)兒童不可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具
15 鈍頭試具 12MM試驗(yàn)探棒 圖V.3 V1.4試驗(yàn)方法3-插頭、插孔、連接器
16 楔形試具 圖V.4
17 端子試具 D20試驗(yàn)探針 圖V.5 類(lèi)似IP4X試驗(yàn)探針
18 鋼盤(pán)剛片 圖47 無(wú)線(xiàn)充電異物溫升測(cè)試
19 鋁環(huán) 圖48
20 鋁片 圖49
1 圖20 試驗(yàn)鉤 4.8.5 IEC62368-1
2 球壓試驗(yàn)裝置 5.4.1.10.3
3 爬電距離測(cè)試卡 5.4.2
4 圖29抗電強(qiáng)度測(cè)試儀 5.4.2.4 固體絕緣抗電強(qiáng)度試驗(yàn)裝置
5 劃痕試驗(yàn)探針 錐型,頂角40℃,尖端應(yīng)當(dāng)?shù)箞A拋光,倒圓半徑為0.25MM±0.02MM
6 IP3X試驗(yàn)探針 附錄P.2.2 防止異物進(jìn)入的安全防護(hù) 附錄P防止導(dǎo)電物進(jìn)入的安全防護(hù)
7 IP4X試驗(yàn)探針 附錄P.2.2 防止異物進(jìn)入的安全防護(hù)
8 13MM試驗(yàn)探針 P.2.3.1
9 500G沖擊鋼球 T.6、T.9 附錄T 附錄T機(jī)械強(qiáng)度試驗(yàn)
10 跌落木板 T.7 附錄T
11 UL試驗(yàn)彎指 圖V.1 對(duì)兒童可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具 附錄V可觸及部件的測(cè)定
12 UL試驗(yàn)直指 圖V.1 對(duì)兒童可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具
13 試驗(yàn)彎指 圖V.2 對(duì)兒童不可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具
14 試驗(yàn)直指 圖V.2 對(duì)兒童不可能會(huì)接觸到的設(shè)備用的鉸接式試驗(yàn)試具
15 鈍頭試具 12MM試驗(yàn)探棒 圖V.3 V1.4試驗(yàn)方法3-插頭、插孔、連接器
16 楔形試具 圖V.4
17 端子試具 D20試驗(yàn)探針 圖V.5 類(lèi)似IP4X試驗(yàn)探針
18 鋼盤(pán)剛片 圖47 無(wú)線(xiàn)充電異物溫升測(cè)試
19 鋁環(huán) 圖48
20 鋁片 圖49
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