慶祝北京衛星環境工程研究所從我司訂購GB4208外殼IP防護等級試具

IP1X試驗探棒

產品概述：

符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標準要求。用于防止手背觸及的防護檢驗。

技術參數：

1、探球直徑：50mm

2、擋板直徑：45mm

3、擋板厚度：4mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長度：100mm

6、根據IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（第一位特征數字1）

●制帶50±5N推力。

IP2X試驗探棒

產品概述：

符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。

技術參數：

1、彎指直徑：12 mm

2、彎指長度：80mm（三節總長度）

3、擋板直徑：50mm

4、擋板長度：100mm

5、參考標準：GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032：1997 圖2

●制帶10±1N推力。

IP20C試驗探棒

基本簡介：

1、根據IEC61032,GB4208,GB2099.1等相應條款制作而成。

技術參數：

1、探球直徑：12.5mm

2、檔板厚度：4mm

3、檔板直徑：10mm

4、手柄直徑：4mm

●制帶50±5N推力。

IP3X試驗探棒

產品概述：

符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。用于防止手持工具觸及的防護檢驗。

技術參數：

1、探棒長度：100mm

2、探棒直徑：2.5mm

3、檔球直徑：35mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長度：100mm

6、根據IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6（第一位特征數字3）。

●制帶3±0.3N推力。

IP4X試驗探棒

產品概述：

符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標準要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。

技術參數：

1、探棒長度：100mm

2、探棒直徑：1mm

3、檔球直徑：35mm

4、手柄直徑：10mm

5、手柄長度：100mm

6、根據IEC61032圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008表6（第一位特征數字4/5/6）。

● 制帶1±0.1N推力。